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用于测定汞离子的LSPR传感膜及其制备方法

发布时间:2023-09-07
  • 专利类型:发明专利
  • 日期 :2023-09-07
  • 专利名称:用于测定汞离子的LSPR传感膜及其制备方法
  • 专利权人 : 匿名
  • 联系电话 :0372-2110568

交易价格(万元):面谈

专利详情

专利类别 :发明专利 专利号 : 2013103486765 申请日期 : 2013-08-12
公开日期 :2014-01-29 专利名称 : 用于测定汞离子的LSPR传感膜及其制备方法 专利权人 :匿名
国际分类号: 暂无 范畴分类号 : 暂无 行业分类 : 暂无
详情介绍:

本发明公开了一种用于测定汞离子的LSPR传感膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:(a) 采用电化学法直接在ITO导电玻璃表面沉积金银合金纳米粒子,得到金属纳米膜;其中,金与银的摩尔比为1:1~3;(b) 将上述金属纳米膜浸入聚乙烯吡咯烷酮水溶液中,形成聚乙烯吡咯烷酮保护膜;清洗晾干后,即可得到LSPR传感膜。本发明将传感单元和反应试剂合二为一,实现了无试剂传感,试片制备简单,使用方便,灵敏度高,选择性好,既可用分光光度计进行定量测定,又可采用目测法定性或半定量测定Hg(II)。

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